1、檢測儀器
    采用MC-2000 D型涂層測厚儀，其測量范圍為0～9000μm，測量誤差：厚度值×3％±1μm，最小示值1μm，使用環境溫度：0℃～＋40℃，相對濕度不大于90％，基體最小厚度：0.2㎜,基體最小平面:7㎜,最小曲率半徑:凹:6㎜、凸:1.5㎜。

    
2、操作方法
    （1）開機：先取開探頭線插在儀器上、然后按動“開”鍵后、儀器進入自檢狀態(探頭與鐵基或磁場的距離保持10cm以上),主顯區從99開始快遞減到0為止進入測量狀態.
    （2）校準:通過樣片校準后,該參數存入儀器,方便以后調出直接測量,儀器上電后可以直接從鐵基開始校準。把探頭放在被測件的毛坯上（一定要打磨光滑）或用隨機攜帶的鐵基試塊上，屏幕上出一數值（0或其他），一手按住探頭不動，另一手按住儀器側面，鐵基校準完畢指向1號樣片，拿掉探頭，把1號樣片（109μm）放到鐵基上，拿探頭測量，屏幕上顯示出一數值。手按住探頭不動，按住側面，1號樣片校準完畢指向2號樣片。拿掉探頭，把2號樣片（3113μm）放到鐵基上，放探頭測量，屏幕顯示出一數值，手按住探頭不動，按住側面樣片校準完畢指向0號樣片。此時兩種樣片校準完畢，可直接進行測量，或把兩種樣片分別放在校準鐵基上測量，如超出誤差范圍，可對超出樣片重新校準，方法如下，按動“號”鍵，儀器把當前校準樣片號調出顯示，如不是超差樣片，按住“號”鍵不動，樣片號從0～2循環顯示，到認可校準樣片號，松開“號”鍵。如要重新校準2號樣片，把2號樣片放入鐵基測量出一數值，按住探頭不動，按“HL”后，屏幕上顯示下一個校準樣片號，校準完畢。可直接進行測量。
    （3）在測量狀態下儲存：在測量狀態下屏幕顯示為最新測量值，如需存儲按動儀器側面“ET”鍵，存儲地址自動加1，如需存儲可重新測量。
3.注意事項
    （1）基體金屬磁化：磁性法測量受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁的變化可以認為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應使用與鍍件金屬具有相同性質的鐵基片對儀器進行校對。
    （2）基體金屬厚度：每一種儀器都有一個基本金屬的臨界厚度，大于這個厚度測量就不受基體厚度的影響。
    （3）邊緣效應：本儀器對試片表面的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。試件的曲率對測量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。
（4）表面粗糙度：基體金屬和表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差。每次測量時，在不同位置上增加測量的次數，克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬覆蓋層，再校對儀器零點。
    （5）磁場：周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性測量厚度的工作。
    （6）附著物質：本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感。因此必須清除附著物質，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
    （7）探頭的位置：探頭的放置方式對測量有影響，在測量中使探頭與試樣表面保持垂直。
    （8）讀書次數：通常儀器的每次讀數并不完全相同。因此必須在每一測量面積內取幾個測量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內進行測量，表面粗糙時更應如此。
4.測量結果
    在所選擇的面積中，至少測出5個點；對于梁和柱在所選擇的位置中，分別測出6個和8個點。分別計算出它們的平均值，精確到0.5mm。